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实时太赫兹光谱仪T-SPEC 系列
实时太赫兹光谱仪T-SPEC 系列
TERAVIL
T-SPEC
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产品概述

•  TERAVIL提供的实时太赫兹光谱仪是用于脉冲太赫兹波研究应用的强大工具。凭借简单而可坚固的设计,它易于使用并且可适应个性化需求。

•  在低温生长的GaAs衬底上制造的微带光电导天线的独特设计可确保宽带光谱覆盖范围和高动态范围。该系统设计有两条延迟线:快速和慢速。快速扫描线允许以10频谱/秒的速度和116 ps的时间窗口进行实时数据采集。所收集频谱的平均值可以在脉冲时将动态范围提高到90 dB,并将频谱范围扩展到5 THz。附加的慢延迟线允许多个时间窗口的组合;因此,光谱仪获得了高达1 GHz的光谱分辨率。快速扫描线设计为不带轴承,并使用磁耦合驱动器,这使其变得可靠并大大延长了使用寿命。

•  T-SPEC光谱仪的外壳上装有进气口。当实验需要特殊的环境条件(例如氮气或干燥的空气)时,它可用作清洗箱。宽敞的样品区可轻松集成低温恒温器或加热器等其他设备。

•  根据特殊需求,我们可以提供此类设备的集成,以确保良好的配合,光谱仪箱的密封,隔振和操作自动化。

•  光谱仪配备有两个标准光谱模块,用于透射和反射配置。每个模块都包含电动样本操纵器。这允许一个接一个地测量多个样品,而无需物理访问光谱仪。反射模块具有方便的垂直结构,太赫兹光束从底部到达样品并向后反射。只需将被测样品放在样品架上即可快速更换。更改样本或更改模块时都不需要调整。

•  我们的T-SPEC系列光谱仪是宽带THz成像的理想选择。它可以扫描多达25×25 mm的样品,空间分辨率约为。1毫米测量包含有关目标的信息,可揭示结构和光谱信息。

•  T-SPEC光谱仪可用于光泵THz探头测量。这允许研究半导体,纳米晶体和其他材料中的载流子动力学。附加光学器件的一部分放置在光谱仪内部;带有延迟线的另一部分安装在T-SPEC外墙上。在大约1ns的时间分辨率下,可以进行1 ns 的测量 0.5 ps。

•  如果客户拥有自己的780 nm或1060 nm fs激光器,TERAVIL可以提供该激光器采用的T-SPEC光谱仪。光学和太赫兹光束路径将被预先对准。因此,仅需要将激光束馈入光谱仪的光学装置即可。激光必须满足以下参数:脉冲持续时间〜100 fs,重复频率在10-100 MHz范围内。

•  分光计配备两个标准分光计模块。用于传输和反射配置。每个模块都包含电动样本操纵器。这使得可以一个接一个地测量多个样品,而无需物理访问分光计。反射模块具有方便的垂直结构,其中THZ光束从底部到达样品并向后反射。只要把被测样品放在样品架上,就可以很快地更换它们。无论是更换样品还是更换模块,都不需要进行调整。我们的T-SPEC系列光谱仪是宽带THZ成像的合适选择。它允许扫描高达25×25 mm的样品,空间分辨率约为1 mm。测量包含了有关目标的信息,揭示了结构和光谱信息。


特征

•  频谱范围高达5 THz

•  高动态范围> 90 dB @ 0.4 THz

•  实时数据采集速度高达10个光谱/秒

•  高达1 GHz的频谱分辨率

•  快速延迟线的“无轴承”设计–长使用寿命

•  透射,反射,光泵THz探头模式

•  高空间分辨率太赫兹成像

•  完整的PC控制

•  用户友好的软件


应用领域

•  化学材料表征

•  半导体的载流子寿命和迁移率

•  介电性能和复折射率

•  材料研究

•  医学和生物无损研究

•  厚度测量


技术参数

型号

T-SPEC 800

T-SPEC 1000

一般规格

光谱范围

>4.5 THz

>3.5 THz

动态范围

>90 dB @ 0.4 THz

>70 dB @ 0.4 THz

采集速率

10 scans/s

光谱分辨率

快速扫描

8.6 GHz

组合模式(快+慢)

~1 GHz

扫描范围:

快速扫描

116 ps

组合模式(快+慢)

928 ps

样品上的光束直径

~ 2 mm @ 0.4 THz

结构

透射/正反射

计算机接口

USB 2.0

尺寸

560 × 520 × 202 mm


性能曲线

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T-SPEC系列实时太赫兹光谱仪的典型性能(在环境大气中测量)

光学布局

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太赫兹光谱仪T-SPEC系列的光学布局,用于光泵太赫兹探头测量


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T-SPEC光谱模块:反射几何(左)和透射几何(右)