HARPIA-TG是一种瞬态光栅光谱仪,用于测量载流子扩散和寿命。测量基于激光诱导瞬态光栅(LITG)技术。该方法可以通过全光学手段同时观察非平衡载流子复合和扩散。
HARPIA-TG可以表征非导电或非荧光样品。它适用于半导体材料和衍生物,例如碳化硅(SiC),氮化镓(GaN),钙钛矿,有机和无机太阳能电池,量子点,甚至复杂的纳米结构,例如量子阱。
与带有集成光参量放大器(I-OPA)的CARBIDE或PHAROS激光器相结合,该紧凑型系统通过优异的测量和分析软件实现全自动和计算机控制。因此,用户只需将样品放入支架并开始测量,即可在几分钟内获得扩散系数。
运作基础
LITG测量的原理如右图所示。一对超短脉冲在样品平面上在空间和时间上重叠。激发光束的角度分离会导致它们在交叉时发生干扰。干涉图案Λ的周期取决于光束相交角和泵浦波长。
周期性图案激发产生空间调制的激发载流子分布,并有效地产生折射率的周期性调制。因此,这种泵浦几何形状会产生瞬态光栅,时间延迟的探头脉冲可以从中衍射。随着时间的推移,激光诱导光栅由于载流子复合(以τR速率引起的电子衰变)和载流子扩散(以τD速率引起的空间衰减)而衰减。扩散项取决于瞬态光栅周期:细光栅(小 Λ 值)比粗光栅(大 Λ 值)扩散得更快。 因此,如果我们测量衍射信号在一系列不同周期Λ上的时间行为,我们可以从关系中确定载流子扩散系数D[cm2/s],
其中τG是瞬态光栅的净衰减率。
测量范围
参数 | 值 |
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扩散系数 | 0.1 – 50 cm2/s |
载波寿命 | 1 ps – 80 ns |
测量过程
瞬态衰减动力学在不同光栅周期Λ下测量。 HARPIA-TG允许连续调谐激励光栅周期。可以在样品平面上形成1.15至15μm(取决于泵浦波长)的周期。
在每个光栅周期获得的数据拟合指数衰减。绘制检索到的倒数衰减常数。
作为光栅周期平方反比的函数。该曲线的正切提供了载流子扩散系数(在给定的载流子浓度和温度下),而零截距点(Λ = ∞ μm)提供了固有载流子复合速率τR。
在不同的激发强度下重复实验,以获得扩散系数对非平衡载流子浓度的全面依赖性。
偏振和泵浦波长控制分别可实现更高级的自旋光栅和热光栅测量。
型号 | HARPIA-TG |
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光栅记录 1) | 340 – 560 nm |
探测波长 2) | 1030 nm |
光栅周期 3) | 1.15 – 15 μm |
时间分辨率 | < 290 fs |
延迟范围 | 达 8 ns |
测量范围
型号 | HARPIA-TG |
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扩散系数 | 0.1 – 50 cm2/s |
载波寿命 | 1 ps – 80 ns |
型号 | HARPIA-TG |
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尺寸 (长 × 宽 × 高) | 730 × 420 × 188 mm |
性能
下图显示了层背面和正面GaN的载流子扩散系数、扩散长度和寿命与通量的关系。GaN越厚,由于更好的聚结,生长层的质量越好。较低的扩散率和较短的寿命表明,蓝宝石衬底和GaN之间的界面结构质量较差,缺陷密度较高。
使用HARPIA-TG结合CARBIDE-CB5激光器和I-OPA进行测量。测量条件:60 kHz,355 nm 泵浦波长,1030 nm 探头波长。
氮化镓的扩散系数与通量的关系
氮化镓的载流子寿命与通量的关系
氮化镓的扩散长度与通量的关系
轮廓图
HARPIA-TG的主要方案
使用 CARBIDE-CB5 和 I-OPA 的推荐布局
软件
HARPIA-TG提供了一个专用软件,可以全自动选择泵浦和探测参数以及光栅周期,从而使扩散系数和载流子寿命的测量尽可能简单。
HARPIA-TG软件,瞬态光栅控制窗口。使用未掺杂的氮化镓进行测量。